Caractérise la surface avec un AFM, microscope à force atomique
Microscope à Force Atomique (AFM) Utilise une pointe extrêmement fine pour balayer la surface d’un échantillon. Composantes Principales Inclut une pointe monté sur un levier …
Équipements pour la caractérisation de surface et l’analyse de défaillance
EN BREF Utilisation du Microscope Électronique à Balayage (MEB) FEG EDX pour la caractérisation de surface. Méthodes d’analyse de défaillance incluant la microscopie optique et ...