Caractérise la surface avec un AFM, microscope à force atomique
Microscope à Force Atomique (AFM) Utilise une pointe extrêmement fine pour balayer la surface d’un échantillon. Composantes Principales Inclut une pointe monté sur un levier …
Microscope à Force Atomique (AFM) Utilise une pointe extrêmement fine pour balayer la surface d’un échantillon. Composantes Principales Inclut une pointe monté sur un levier …